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Grazie al supporto fornito dal progetto PRIMIS, a fine 2018, CAEN ed INFN hanno organizzato un importante test di componenti e schede di elettronica presso i laboratori dell’ENEA della Casaccia.

Presso l’ENEA sono disponibili diversi tipi di sorgenti radiattive, in dettaglio per questi test si è utilizzata la sorgente di Co60 che emette radiazione gamma in grado di danneggiare l’elettronica. Tale sorgente ad alta intensità è conservata in una vasca visibile in Figura 1.

Tale vasca piena d’acqua impedisce alla potente radiazione gamma di diffondersi nell’ambiente sperimentale che altrimenti sarebbe inadatto ad ospitare qualunque forma di vita. L’unico indizio della presenza di radiazione è dato dalla luce Cherenkov visibile in Figura 2 che è derivante dall’attività del cobalto.

Figura 1: vasca di contenimento della sorgente.
Figura 2: Luce Cherenkov dalla sorgente.

I test hanno impegnato in modo congiunto il personale di CAEN e dell’INFN delle due sezioni di Pisa e Firenze e si sono svolti nell’arco di una settimana, durante la quale vari componenti sono stati sottoposti al flusso di raggi gamma in modo da testare la resilienza di questi a tale radiazione. La radiazione gamma è una sola delle radiazioni alle quali saranno testati le schede del progetto PRIMIS.

Figura 3: A destra e` visibile la vasca di contenimento del Co60 mentre a sinistra la schermatura in piombo dietro la quale sono stati posizionati i circuiti e componenti da testare.
Figura 4: dettaglio delle schede di test dietro la barriera di piombo.

Data la grande intensità della sorgente, e per studiare meglio gli effetti graduali della radiazione, è stata utilizzata una schermatura in piombo dietro la quale son stati posizionati i componenti da testare, come è visibile in Figura 3 e Figura 4.

I risultati dei test sono stati incoraggianti: i componenti testati hanno passato i test mostrando una buona resilienza nell’intervallo indagato, alcune schede più elaborate hanno invece smesso di funzionare.

Queste sono state successivamente analizzate in modo più approfondito, a test terminati, e si è potuto riscontrare come il malfunzionamento fosse dovuto a specifici componenti dei quali già si poteva predire un malfunzionamento, e che una volta sostituiti hanno ricominciato a funzionare.